Работы 6

Просвечивающая электронная микроскопия. Калибровка просвечивающего электронного микроскопа. Измерение линейных размеров объектов.

НИР. Цель работы: Получение первичных навыков работы за просвечивающим электронным микроскопом, изучение способов определения масштабного коэффициента для требуемых увеличений, изучение способов измерения линейных размеров исследуемых объектов. Данная работа посвящена изучению основных принципов работы просвечивающего электронного микроско...

4

342   0   0

Нанотехнологии

Исследования

около 1 года назад


Рентгеновская микроскопия латуни и тонких плёнок HfZrO. ZAF-коррекция.

НИР. Объектом исследования являются: латунь (образец №1) и тонкая плёнка HfZrO (образец №2). Цель работы — изучение метода ZAF коррекции, получение навыков анализа и обработки данных, измерение весовой и атомной долей в образцах, определение марки латуни и толщины плёнки HfZrO. В работе использовался микроскоп FEI Quanta 200, оснащённый с...

5

324   0   0

Нанотехнологии

Исследования

около 1 года назад


Оптическая микроскопия периодических рельефных структур на основе монокристаллического кремния

НИР. Объектом исследования являются: периодические рельефные структуры, сформированные на поверхности пластины монокристаллического кремния методом анизотропного травления. Цель работы: изучение методов работы оптического микроскопа, получение навыков анализа и обработки данных, измерение периода и скважности кремниевых структур, ...

5

300   0   0

Нанотехнологии

Исследования

около 1 года назад


Контактный и полуконтактный метод атомно-силовой микроскопии. Оценка шероховатости наноструктур.

НИР. Объектом исследования являются: МШПС 2.0K (образец №1) и кремниевая пластина (образец №2). Цель работы — изучение методов работы АСМ, получение навыков анализа и обработки данных, калибровка АСМ с использованием МШПС 2.0К, оценка шероховатости образца №2 в полуконтактном режиме работы. В работе использовался микроскоп Ntegra Aura, с п...

5

285   0   0

Нанотехнологии

Исследования

около 1 года назад


Эллипсометрия субмикронных плёнок оксида кремния и оптических резистов с вытравленными окнами

НИР. Объектом исследования являются: Плёнки SiO2 различных толщин (от 90 до 300 нм); SiNx, оптический резист -- с вытравленными окнами в плёнках. Цель работы: Получение навыков работы на эллипсометре, определение толщин и коэффициентов преломления фоторезистов, измерение толщин плёнок под различными углами падения, сравнение резул...

4

273   0   0

Нанотехнологии

Исследования

около 1 года назад


Растровая электронная микроскопия шаговых рельефных структур

НИР. Объектом исследования является объект с шаговой рельефной структурой с известным шагом. Цель работы — изучение методов работы растрового электронного микроскопа, получение навыков анализа и обработки данных, определение масштабного коэффициента при различных параметрах микроскопа, измерение ширины выступа методом дефокусировки и сравнени...

4

271   0   0

Нанотехнологии

Исследования

около 1 года назад


Для лиц старше 18 лет