Рентгеновская микроскопия латуни и тонких плёнок HfZrO. ZAF-коррекция.

НИР. Объектом исследования являются: латунь (образец №1) и тонкая плёнка HfZrO (образец №2). Цель работы — изучение метода ZAF коррекции, получение навыков анализа и обработки данных, измерение весовой и атомной долей в образцах, определение марки латуни и толщины плёнки HfZrO. В работе использовался микроскоп FEI Quanta 200, оснащённый спектрометром с энергетической дисперсией, с помощью которого были получены спектры исследуемых объектов и эталонных образцов. В результате работы определены весовые и атомные доли элементов в образцах, марка сплава и отношения массовых толщин плёнок.

Физика
Исследования

Вуз: Московский физико-технический институт (государственный университет) (МФТИ)

ID: 56c4f9ee5f1be746330004e5
UUID: bee5eaf0-d939-0133-1d78-525400003e20
Язык: Русский
Опубликовано: почти 2 года назад
Просмотры: 579

Дмитрий Додонов

Московский физико-технический институт (государственный университет) (МФТИ)


5

Комментировать 0

Рецензировать 0

Скачать - 0 байт


Поделиться работой
Current View

- у работы пока нет рецензий -
Для лиц старше 18 лет