Тестирование цифровых устройств

21 век – век научно-технического прогресса. Все научные достижения так или иначе связаны с техникой, разного рода микросхемами и чипами. Человечество движется в сторону автоматизации всех возможных процессов. Одной из первых отраслей, где была применена автоматизация, можно по праву назвать серийное производство. Серийное производство подразумевает изготовление продукта в огромных количествах ежедневно. И несмотря на то, что процесс производства почти полностью автоматизирован, присутствует доля брака. Проблема диагностики и контроля за качеством продукта является одной из самых актуальных проблем в данной области. В настоящее время для ее решения используются разные средства и методы диагностики, позволяющие осуществить проверку функциональности микросхемы и локализацию неисправности. В данной работе были описаны метод функционального тестирования и этапы разработки тест-программы в рамках этого метода. Для создания тест-программы были изучены следующие программные средства: язык описания электронных устройств Verilog HDL, мультиплатформенная программная среда Altera Quartus II и система автоматического проектирования тестов SimTest. Данные программные средства были применены для разработки тестовой программы, результаты моделирования тестовой программы приведены на примере реальной схемы.

Общественные науки в целом
Дипломы

Вуз: Санкт-Петербургский государственный университет (СПбГУ)

ID: 587d364c5f1be77c40d58bd5
UUID: 6e583a35-aac8-42b0-9f3a-7d8abc314e2d
Язык: Русский
Опубликовано: больше 4 лет назад
Просмотры: 438

Нуракунов Алишер

Источник: Санкт-Петербургский государственный университет


0

Комментировать 0

Рецензировать 0

Скачать - 901030 bytes


Поделиться работой
Current View

Рецензии:

  Авторизуйтесь, чтобы добавить рецензию

- у работы пока нет рецензий -

Для лиц старше 18 лет