Рецензия на работу:

Исследование процессов кристаллизации и аморфизации тонких пленок материала фазовой памяти Ge2Sb2Te5 под воздействием импульсного наносекундного лазерного излучения

Автор работы: Глухенькая Виктория

Вуз: Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники» (МИЭТ)


Общий комментарий к рецензии:

Отзыв руководителя на магистерскую диссертацию Глухенькой В.Б. «Исследование процессов кристаллизации и аморфизации тонких пленок материала фазовой памяти Ge2Sb2Te5 под воздействием импульсного наносекундного лазерного излучения»


Автор рецензии:

46.06

Глухенькая Виктория

Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники» (МИЭТ)


Скачать - 0 байт


Current View
Для лиц старше 18 лет